納米粒度儀分散測(cè)試

納米粒度儀粒度分布測(cè)試時(shí)為什么要進(jìn)行分散？

在通常情況下，粒度分布測(cè)試就是要得到顆粒在單體狀態(tài)下的分布狀態(tài)，而粉體中的顆粒常常有“聚團(tuán)”現(xiàn)象，因此要進(jìn)行分散處理。

哪些方法粒度測(cè)試需要分散，那些方法不需要分散？

在粒度測(cè)試時(shí)需要對(duì)樣品進(jìn)行分散的方法有激光法、沉降法、篩分法、電阻法、圖像法等。在粒度測(cè)試中不需要對(duì)樣品進(jìn)行分散的方法有費(fèi)氏法（測(cè)平均粒度）、超聲波法、X射線小角散射法等。

粒度儀分散的基本方法

為使顆粒處于單體狀態(tài)，在進(jìn)行粒度測(cè)試前要對(duì)樣品進(jìn)行分散處理。濕法粒度測(cè)試的分散方法有潤(rùn)濕、攪拌、超聲波、分散劑等，這些方法往往同時(shí)使用。干法粒度測(cè)試的分散方法是顆粒在高速運(yùn)動(dòng)中自身的旋轉(zhuǎn)、顆粒之間的碰撞、顆粒與器壁之間的碰撞等。